如何进行半导体老化测试?
通过进行老化测试来复制实际的现场应力环境有助于降低故障率。老化测试对于确保生产线的质量控制至关重要。
快速温度变化试验箱(应力筛选试验箱ESS)用于模拟不同气候条件变化对产品的影响,评价产品的可靠性和耐久性的仪器设备。是考察产品热机械性能引起的失效,构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温变试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。快速温变试验是环境应力筛选的有力手段,可有效剔除产品的早期失效。
适用于航空航天产品、仪器仪表、化学、材料、电工、电子产品、等多种零部件在温度快速变化或渐变条件下的适应性试验,或进行应力筛选试验,帮助对试品在拟定条件下的性能、变化作出科学的分析及评价。
规格标准
技术规格
内箱容积 | 100L | 225L | 408L | 800L | 1000L | ||
W*H*D (mm) |
内 | 400×500 x500 | 500×750×600 | 600x850×800 | 1000×1000x800 | 1000×1000×1000 | |
外 | 依温变速率定制 | ||||||
温度范围 | -70℃~+150℃ | ||||||
湿度范围 | 20%R.H~98%R.H | ||||||
温变速率 | 5℃/min、10℃/min、15℃/min (可选) |
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